H-800高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能。采用AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,配备10英寸触摸屏,软件可保存和打印数据,自动生成报表;本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电 流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导 率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大适用范围大提高精 确度,也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。
H-800系列采用自主开发先 进的电子护系统,设备的安全性;选用进口热电偶保定温度的采集有 效值、采用先 进的的SPWM 电子升压技术,电压输出稳定性好。配备电压、电流传感器以保 证试验数据的有 效性。
H-800系統搭配Labview系统开发的hcpro软件,具备弹性的自定义功能,可进行电压、电 流、温度、时间等设置,符合导体、半导体材料与其它新材料测试多样化的需求。的输出与测量规格,保障检测结果的品质,适用于新材料数据的检测。例如:多晶硅材料、石墨烯材料、导电功能薄膜材料、半导体材料,也可做为科研院所新材料的耐电弧性材料的性能测试。针探针测试仪做了多项安全设计,测试过程中有过电压、过电流、超温等异常情况以保 证测试过程的安全;资料保存机制:当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中,不丢失试验数所新开启动后可恢复原有试验数据。
测量温度:RT-600℃/1000℃ | 测量组合:四探针双电测组合测量 | 供电:220V±10%,50Hz |
升温斜率:0-10℃/min (典型值:3℃/min) | 样品尺寸:φ15~30mm,d<4mm薄片或薄膜 | 工作温度:5℃ 至 + 40 ℃; |
控温精度:±0.5℃ | 电材料:碳化钨针 | 存储温度:–40 ℃ 至 +65 ℃ |
电阻测量范围:0.1mΩ~100MΩ | 针尖绝缘电阻:≥1000MΩ | 工作湿度:+40 ℃ 时,相对湿度达 95%(无冷凝) |
电阻率测量范围:1mΩ.cm~100MΩ.cm | 绝缘材料:99氧化铝陶瓷 | 设备尺寸:630x640x450mm |
电导率测量范围:0.00001s/cm~100000s/cm | 数据存储格式:TXT文本格式 | 重量:38kg |
测量精度:0.01% | 数据传输:USB | 保修期:1年 |
测量环境:惰性气氛、还原气氛、真空气氛 | 符合标准:ASTM F84、GB/T 1551-2009、GB/T 1551-1995 |
多晶硅材料
石墨烯材料
石墨功能材料
半导体材料
导电功能薄膜材料
锗类功能材料
导电玻璃(ito)材料
柔性透明导电薄膜
其它导电材料等
系统功能:
█ 电压、电流、温度实时显示
█ 自动升压功能
█ 循环自动测试
█ 升温速度可控
█ 自动试验报表
█ 过压、过流、超温报警
█ 软件自动升
█ 试验电压、电流可调
█ 电方便更换
█ 在线设备诊断
性能特点:
多功能真空加热炉,体炉膛设计、可实现、高温、真空、气氛环境下进行测试
█ 采用铂材料作为导线、以减少信号衰减、提高测试精度,
█ 可以测量半导体薄膜材、薄片材料的方块电阻、电阻率;
█ 可实现常温、变温、恒温条件的I-V、R-T、R-t等测量功能;
█ 进口温度传感器、PID自动温度控制,使测量温度更准 确;
█ 仪器可自动计算试样的电阻率pv;
█ 10寸进口触摸屏设计,体化设计机械结构,更加稳定、可 靠;
█ 程控电子升压技术,纹波更低、TVS防护系统,保 证仪器安
99氧化铝陶瓷绝缘、碳化钨探针;
huace pro 强大的控制分析软件。
更新时间:2024/4/26 15:04:13
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主营产品:功能材料电学综合测试系统、绝缘诊断测试系统、高低温介电温谱测试仪、极化装置与电源、高压放大器、PVDV薄膜极化、高低温冷热台、铁电压电热释电测试仪、绝缘材料电学性能综合测试平台、电击穿强度试验仪、耐电弧试验仪、高压漏电起痕测试仪、冲击电压试验仪、储能材料电学测控系统、压电传感器测控系统。
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