产品简介
HCJDCS-B介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;该仪器广泛应用于大院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准:GB/T5594.4-1985。
产品特点
它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。
介电常数又称电容率或相对电容率,是表征电介质或绝缘材料电性能的一个重要数据,常用ε表示。介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场,原外加电场(真空中)与zui终介质中电场比值即为介电常数。其表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力,例如一个电容板中充入介电常数为ε的物质后可使其电容变大ε倍。介电常数愈小绝缘性愈好。如果有高介电常数的材料放在电场中,场的强度会在电介质内有可观的下降。介电常数还用来表示介质的化程度,宏观的介电常数的大小,反应了微观的化现象的强弱。气体电介质的化现象比较弱,各种气体的相对介电常数都接近1,液体、固体的介电常数则各不相同,而且介电常数还与温度、电源频率有关。
试样名称 | | 测定人 | | 测定时间 | | ||||||
试样处理 | | ||||||||||
编号 | C1 | C2 | C | d | ψ | δ | Q1 | △Q | Q2 | tanδ | QX |
| | | | | | | | | | | |
Cd Φ2 |
C1 △Q C1 Q1-Q2 C1-C2 Q1* Q2 C1-C2 Q1* Q2 |
1 Q1Q2 C1-C2 tanδ Q1-Q2 C1 |
更新时间:2022/8/5 9:20:28
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