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介电常数及介质损耗测试仪-电压击穿试验仪-电子万能试验机-耐电弧试验仪-北京华测供应商

型号:HCJDCS-A

产品价格:电议      采购度:839      发布时间:2012/8/24 11:29:56

仪器产地:中国大陆      所属地区:北京 北京市

简要描述: HCJDCS-A介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。

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高频介电常数及介质损耗测试仪




公称型号
HCJDCS-A型北京高频介电常数及介质损耗测试仪
厂家直售

产品简介

HCJDCS-A介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的试验方法》(等效采用IEC 60250)设计和制造的,并符合JB 7770等试验方法。
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;该仪器广泛应用于大院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。

满足标准
GB/T5594.4-1985。

适用范围
它适用于在高频(1MHz)下绝缘材料的测试。 
仪器用于科研单学、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。 
产品特点
介电常数又称电容率或相对电容率,是表征电介质或绝缘材料电性能的一个重要数据,常用ε表示。 介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场,原外加电场(真空中)与zui终介质中电场比值即为介电常数。其表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力,例如一个电容板中充入介电常数为ε的物质后可使其电容变大ε倍。介电常数愈小绝缘性愈好。如果有高介电常数的材料放在电场中,场的强度会在电介质内有可观的下降。介电常数还用来表示介质的化程
度,宏观的介电常数的大小,反应了微观的化现象的强弱。气体电介质的化现象比较弱,各种气体的相对介电常数都接近1,液体、固体的介电常数则各不相同,而且介电常数还与温度、电源频率有关。
物质介电常数具有复数形式,其实部即为介电常数,虚数部分常称为耗散因数。
通常将耗散因数与介电常数之比称作耗散角正切,其可表示材料与微波的耦合能力,耗散角正切值越大,材料与微波的耦合能力就越强。例如当电磁波穿过电解质时,波的速度被减小,波长也变短了。

技术参数
1 Q值测量范围:5~999
   Q值量程分档:30、100、300、999、自动换档或手动换挡
   误差:25kHz~10MHz   ≤5%±满度值的2%
            10MHz~50MHz ≤7%±满度值的2%
2 电感测量范围:0.1μH~1H 分七个量程
3 电容测量范围:1PF~460PF
   主电容调节范围:40PF~500 PF
   准que度:150PF以下±1.5PF
           150PF以上±1%
   微调电容调节范围:-3PF~0PF~+3PF
    准que度:±0.2PF
4 频率覆盖范围:25 kHz~50MHz 分七段
   指示误差:2×10-4±2个字
5 电源:220V±22V   50Hz±2.5Hz   25W
6 环境温度:(0~+40)℃
7 相对湿度:RH<80%
8 外形尺寸:380mm×132mm×280mm
9 重量:约7kg
10.电感9只;
11.夹具一套

安装要求
1.本仪器适用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流电,使用要检查市电电压是否合适,zui好采用稳压电源,以保zheng测试条件的稳定。
2.开机预热15分钟,使仪器恢复正常状态后才能开始测试。
3.按部件标准制备好的陶瓷试样,两面用烧渗法被上银层,并分别焊上一根Φ0.8mm,30~40mm长的金属引线。引线材料为铜,表面镀银并浸锡。
4.选择适当的辅助线圈插入电感接线柱。根据需要选择振荡器频率,调节测试电路电容器使电路谐振。假定谐振时电容为C1,品质因素为Q1。
5.“△Q零点调节”旋钮使Q表指向表头中间零点。
6.“Q量程”开关扳回500档。
7.将被测样品接在“CX”接线柱上。
8.再调节测试电路电容器使电路谐振,这时电容为C2,“Q量程”扳向△Q位置,可以直接读出△Q,并且Q2= Q1-△Q,将Q表量程扳回500档。
9.用游标卡尺量出试样的直径Φ和厚度d(分别在不同位置测得两个数据,再取其平均值)

实验结果
1.tanδ和ε测定记录
实验数据按表1要求填写。
表1             tanδ和ε测定记录表
试样名称   测定人   测定时间  
试样处理  
编号 C1 C2 C d ψ δ Q1 △Q Q2 tanδ QX
                       
2.计算
Cd
Φ2
1)介电常数ε
ε=
 
式中:C---试样的电容量(PF), C= C1-C2;
d---试样厚度(cm);
Φ—试样直径(cm)。
  C1     △Q       C1     Q1-Q2 
C1-C2    Q1* Q2     C1-C2    Q1* Q2
2)介质损耗角正切tanδ
                 tanδ=        *        =       *
 
 1     Q1Q2   C1-C2
tanδ   Q1-Q2     C1
3) Q值
                  Q =     =       *

注意事项
1.圆片形试样的尺寸(Φ=38mm+1mm,d=2mm+0.5mm)要符合公差要求,两面烧渗银层、浸锡及焊接引出线要符合技术条件。
2.电压或频率的剧烈波动常使电桥不能达到良好的平衡,所以测定时,电压和频率要求稳定,电压变动不得大于1%,频率变动不得大于0.5%。
3.电与试样的接触情况,对tanδ的测试结果有很大影响,因此烧渗银层电要求接触良好、均匀,而厚度合适。
4.试样吸湿后,测得的tanδ值增大,影响测量精度,应严格避免试样吸潮。
5.在测量过程中,注意随时检查电桥本体屏蔽的情况,当电桥真正达到平衡,“本体-屏蔽”开关置于任何一边时,检查计光带均应zui小,而无大变化。



 

更新时间:2021/10/22 9:30:09

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