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010-86460119华测 双面探针台
Huace-8D
一、产品介绍
华测双面点针探针台可用于晶圆和PCB板测试，用于需要正面和背面同时扎针，以实现各种光/电性能测试需求的测试设备。该定制探针台具有优良的机械系统，稳定的结构，符合人体工程学，以及多项升功能。可广泛应用于集成电路、Wafer ， LED、LCD、太阳能电池等行业的制造和研究域。
二、优势特点
华测系列探针台可兼容高倍率金相显微镜，可微调移动 ； 可升做射频，大电流方面的测试和激光修复应用
1、满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等.
2、zui大可用于8英寸以内样品测试
3、同轴丝杠传动结构，线性移动
4、兼容高倍率金相显微镜，可微调移动
5、可升做射频，大电流方面的测试和激光修复应用
三、台体规格参数
1、chuck尺寸： 8英寸；
2、水平旋转：可360°旋转，可微调15°，精度0.1°，带角度锁死装置；
3、X-Y移动行程：8英寸×8英寸
4、X-Y移动精度：10微米/1微米；
5、样品固定：样品夹定，尺寸可调，真空吸附固定，卡盘多圈吸附环可独立控制；
6、双面点针平台：气动升降平台升起为双平台，落下可做单平台使用
7、卡盘结构：普通/高温/带背电等结构卡可选择
四、温控系统
1、温度范围：室温~300℃(400℃,500℃可选)
2、温控精度：0.1°C
3、温控稳定性：±1℃
4、温控传感器：100Ω 铂电阻传感器
五、正面光学系统
1、CCD：200W/500W11200W像素可选(正反面)
2、显微镜类型：单筒/体视/金相显微镜可选
3、放大倍率：16X-100X/20X-2000X
4、显微镜调节：水平方向绕立柱旋转X-Y移动2*2英寸，Z轴行程50.8mm
5、光源:外置LED环形光源/同轴光源
更新时间：2024/4/30 13:21:31
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主营产品：功能材料电学综合测试系统、绝缘诊断测试系统、高低温介电温谱测试仪、极化装置与电源、高压放大器、PVDV薄膜极化、高低温冷热台、铁电压电热释电测试仪、绝缘材料电学性能综合测试平台、电击穿强度试验仪、耐电弧试验仪、高压漏电起痕测试仪、冲击电压试验仪、储能材料电学测控系统、压电传感器测控系统。
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